Diskrete Halbleiter Tester

Beschreibung
Von Kleinstströmen bis hin zu 1200A, Curve Trace, eine hohe Anzahl von Testadaptern, Multiplexer und Wafer Mapping oder Handler/Prober-Interface sowie Diagnose / Autocalibration -die Flexibilität des Systems ist sehr groß.

Merkmale
Entsprechend den Testanforderungen für diskrete Bauelemente sind die nachstehenden Testsysteme geeignet alle erforderlichen Parameter zu testen. Zusätzlich können noch Arrays, Logic, Hybride und programmierbare OVPs getestet werden. 

Diskreter Halbleiter Tester 5300HX

  • Table of Tests
  • Specifications
  • Built-In Self Test
  • Built-In Auto Calibration
  • Autopolarity (Diodes)
  • Programmable Relay Drivers
  • 96 Programmable Test Steps
  • 99 Sorts
  • Sort Qualify on Pass or Fail
  • Branch on Non-Qualifying Test
  • Windows®Application Software

 Datenblatt

Diskreter Halbleiter Tester 5000E

  • Same Proven Technology as all 5000 Series Testers
  • High Speed Single Test Measure
  • Capable of Testing Multiple and Mixed Devices
  • 1KV Standard, 2KV Optional
  • 1NA to 50A Standard, 100A Optional
  • 0.1NA Resolution
  • Complete Self Test
  • Auto-Calibration
  • RDSON to 0.1MOHM Resolution
  • Windows® Application Software
  • MOSFET, IGBT, J-FET
  • Triac, SCR, Sidac, Diac, Quadrac, STS, SBS
  • Transistor, Diode, Opto, Zener
  • Regulator, MOV, Relay
  • Fast Data Capture

Datenblatt